ハイブリッド車モータ駆動用電力半導体の耐久信頼性評価
Evaluation of Durability and Reliability of Power Semiconductor Device for Traction Motor Driver of Hybrid Vehicle
- 提供方法
- 本サイト上にてダウンロード・閲覧可
- 形態
- 価格
- 一般価格(税込):¥1,100 会員価格(税込):¥880
- 文献番号
- 20015190
- 文献・情報種別
- 学術講演会予稿集(春)
No.27-01
- 掲載ページ
- 13-16(Total 4 p)
- 発行年月
- 2001年 5月
- 出版社
- (公社)自動車技術会
- 言語
- 日本語
書誌事項
| 著者 | 1) 古川 勝彦, 2) 篠原 貞夫 |
|---|---|
| 著者(英) | 1) Katsuhiko Furukawa, 2) Sadao Shinohara |
| 勤務先 | 1) 本田技術研究所, 2) 本田技術研究所 |
| 勤務先(英) | 1) Honda R&D CO.,LTD., 2) Honda R&D CO.,LTD. |
| 抄録 | ハイブリッド車におけるモータ駆動用電力半導体部品の電流と発熱温度に対しての単体寿命特性と完成車使用環境との相関を明確にし、ハイブリッド車における信頼度を求めた。その結果、量産時の工程品質および信頼性が確認でき、あわせて耐久信頼性の評価手法が確立できた。 |
| 抄録(英) | Reliability of power semiconductor device for traction motor driver of hybrid vehicle was verified through clarification of relationship between unit duration characteristics and actual service environment regarding electric current and temperature by heat generation. Reliability of 99.915% was obtained, and mass-production process quality and reliability were confirmed. Further, evaluation method of durability and reliability was established. 翻訳 |