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No.18-25

カテゴリ	PPT資料
カテゴリ（英）	PPT slides 翻訳
著者	1) 加藤史樹
著者（英）	1) Fumiki Kato
勤務先	1) 国立研究開発法人産業技術総合研究所
勤務先（英）	1) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
抄録	SiCパワー半導体はxEVへの採用が拡大しています。パワーモジュールの熱抵抗は信頼性評価・劣化診断の重要な指標の一つです。本講演では、過渡熱抵抗解析による熱設計検証・品質検査・故障解析の事例を紹介します。
抄録（英）	The adoption of SiC power semiconductors in xEVs is expanding. The thermal resistance of power modules is one of the important indicators for reliability evaluation and degradation diagnosis. In this presentation, we will introduce examples of thermal design verification, quality inspection, and failure analysis using transient thermal resistance analysis. 翻訳

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例）X（スペース）Y →「XかつY（を含む）」

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例）X AND Y →「XかつY（を含む）」 X OR Z →「XまたはZ（を含む）」

AND検索とOR検索が混在する場合は、OR検索が優先されます。

例）X AND Y OR Z → X AND (Y OR Z)

AND検索と複数のOR検索が混在する場合も、OR検索が優先されます。

例）W AND X OR Y OR Z → W AND (X OR Y OR Z)

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