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自動車用電気電子部品のインピーダンス 等価性試験方法

Detailed Information

Scopeこの規格は,自動車用電気/電子部品(素子)及びそれを含む回路でのインピーダンス等価性試験方法を規定する。素子レベルでの工程変更(PCN)などの場合は,同一基板測定を前提とした,インピーダンスの等価性の判定手法として,変更前後のインピーダンス相対差を用いる。回路ブロックなどについては,同一インターフェース(コネクタ,基板面)からのSパラメータの等価性を試験する手法として変更前後のSパラメータの相対差を用いる。これらの等価性試験は,EMC性能に影響を与えるインピーダンス,Sパラメータの反射特性又は伝達特性をその振幅値で比較することで等価性を試験する。主に変更素子,変更部位を含むECUのRFのエミッション及びRFのイミュニティの性能差の影響の有無を推定する手法として用いることを想定している。この規格では機能評価,ESD,EOSなどの性能評価は含まない。
主な対象部品は,表1に示すとおり,ノイズ伝搬経路となる受動素子,能動素子及びその組み合わせから成る電気/電子回路基板上の回路などである。

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Example) X AND Y → "X and Y (including)"  X OR Z → "X or Z (including)"
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Example) X AND Y OR Z → X AND (Y OR Z)
If AND search and multiple OR search are mixed, OR search has priority.
Example) W AND X OR Y OR Z → W AND (X OR Y OR Z)

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