Conduction Noise Analysis of High-Precision IC and MOSFET Models Using Electro-Mechanical Coupled Simulation
エレメカ連成シミュレーションによるICおよびMOSFET高精度モデルの伝導ノイズ解析
- Delivery
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- Format
- Price
- Non-members (tax incl.)：￥1,100 Members (tax incl.)：￥880
- Publication code
- 20265077
- Paper/Info type
- Proceedings (Spring)
No.18-26
- Pages
- 1-4(Total 4 p)
- Date of publication
- May 2026
- Publisher
- JSAE
- Language
- Japanese
- Event
- 2026 JSAE Annual Congress (Spring)
Detailed Information
| Author(J) | 1) 池田 佳子, 2) 江上 孝夫, 3) 中西 崇, 4) 稲葉 雅司, 5) 井上 啓太, 6) 橋本 一成, 7) 上田 雅生, 8) 向山 大索, 9) 有賀 善紀, 10) 篠田 卓也 |
|---|---|
| Author(E) | 1) Yoshiko Ikeda, 2) Takao Egami, 3) Takashi Nakanishi, 4) Masashi Inaba, 5) Keita Inoue, 6) Kazunari Hashimoto, 7) Masanari Ueda, 8) Daisaku Mukaiyama, 9) Yoshinori Aruga, 10) Takuya Shinoda |
| Affiliation(J) | 1) 東芝デバイス＆ストレージ, 2) ACテクノロジーズ, 3) 東芝デバイス＆ストレージ, 4) デンソー, 5) デンソー, 6) デンソー, 7) シーメンスEDAジャパン, 8) ルビコン, 9) KOA, 10) デンソー |
| Affiliation(E) | 1) Toshiba Electronic Devices & Storage, 2) AC Technologies, 3) Toshiba Electronic Devices & Storage, 4) DENSO, 5) DENSO, 6) DENSO, 7) Siemens Electronic Design Automation Japan, 8) Rubycon, 9) KOA, 10) DENSO |
| Abstract(J) | 車載システムの高機能化に伴い，電子制御ユニットの高密度化・高速化・高電力化が進み，EMI（Electromagnetic Interference）およびEMS（Electromagnetic Susceptibility）の課題が顕在化している．本研究では，昨年度にICおよびMOSFETの高精度モデルを開発し，拠出型調査事業におけるアクチュエータ基板で電気・熱の過渡応答を検証した．今年度は，これらのモデルを用いた伝導ノイズ解析への応用を進め，車載電子機器の信頼性向上に資する解析手法の確立を目指す． Translation |
| Abstract(E) | With the increasing functionality of automotive systems, the higher density, faster operation, and greater power of electronic control units have intensified challenges related to EMI (Electromagnetic Interference) and EMS (Electromagnetic Susceptibility). In this study, high-precision IC and MOSFET models developed last year were utilized to verify transient electrical and thermal responses on actuator boards within a collaborative research project. This year, we focus on applying these models to conduction noise analysis, aiming to establish an analytical approach that contributes to improving the reliability of automotive electronic systems. |
